东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，进一步扩展Thermoflagger™过温检测IC产品线—“TCTH0xxxE系列”。该系列可用于具有正温度系数（PTC）热敏电阻的简单电路中，用来检测电子设备中的温度升高，六款新产品于今日开始支持批量出货。
为了使电子设备按规定运行，半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数，特别是当它高于设计流程中的假设温度时，它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题，因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。
当配置在具有PTC热敏电阻（其电阻值随温度变化而变化）的简单电路中时，Thermoflagger™过温检测IC不仅可以检测温度升高，还可以检测置于热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化，并在温度过高时输出FLAG信号。例如，当Thermoflagger™检测到异常发热情况并向MCU发送FLAG信号时，MCU将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。
这六款新产品分别是：TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述产品加上已经发布的TCTH021BE和TCTH022BE，进一步扩展了TCTH0xxxE系列产品线，使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的PTCO输出电流[1]的支持，新产品扩大了PTC热敏电阻的可选范围，既可选择推挽型或开漏型FLAG信号输出类型[2]，也可选择使用或不使用FLAG信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围，可以实现低电流消耗的灵活电路设计。
新产品采用小型，符合行业标准SOT–553封装（东芝的封装名称为：ESV），确保TCTH0xxxE系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统，并助力实现尺寸和功耗的双重改善。
除了已经发布的参考设计过温检测IC Thermoflagger™的应用电路（TCTH021BE／开漏型）之外，东芝在其官网上又发布了新版参考设计：过温检测IC Thermoflagger™应用电路（TCTH021AE／推挽型）。
东芝使用村田制作所（以下简称“村田”）提供的PTC热敏电阻的相关技术信息来实现过温检测解决方案。村田建议将Thermoflagger™与PTC热敏电阻结合使用。
未来，东芝将继续扩展其产品线，推出采用各种封装、器件特性不断完善的产品，助力提高设计灵活性并实现碳中和目标。
开漏分配中FLAG信号输出的操作示例
Thermoflagger™ TCTH021AE电路板样品
应用
● 移动设备（笔记本电脑等）
● 家用电器
● 工业设备等
特性
● 配置简单，可与PTC[1]热敏电阻结合使用
● 通过串联PTC[1]热敏电阻，可同时在多个点进行过温监测。
● 低电流消耗：
IDD＝1.8μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE）
IDD＝11.3μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE）
● 小型标准封装：SOT–553（ESV）
● 扩大了PTC[1]热敏电阻的选择范围，具有两种类型的PTCO输出电流：
IPTCO＝1.00μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE）
IPTCO＝10.0μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE）
● 高PTCO输出电流精度：±8%
● FLAG信号输出（PTCGOOD）可选择推挽型和开漏型
● 可选择FLAG信号锁存功能
主要规格
（除非另有说明，Tj＝25℃）
注：
[1] PTCO输出电流：由过温检测IC提供给PTC热敏电阻的恒定电流。
[2] 当过温检测IC检测到错误时，就会输出FLAG信号。推挽型由两个垂直堆叠的MOSFET组成。输出电流以任一方向流入和流出。开漏型由一个MOSFET组成。输出电流只向一个方向流动。
[3] FLAG信号锁存功能在过温检测IC检测到错误（即使只有一次）后保持FLAG信号。过温检测IC不能自行恢复；需要通过从MCU等将信号输入到RESET引脚来恢复。
[4] 之前发布的产品
