CA168首页 > 自动化新闻 > 企业新闻 > 品牌资讯 > 新闻详情

辨物于微 一目千行 谁人可比AI更强?

发布日期:2020-06-24 浏览次数:300
       随着科技的进步,电子产品体积能越做越小、越来越轻量,但功能与效能方面却较以往更为齐全,而越精巧的元件,则需要越高的制程技术。台达针对小型被动元件检测需求推出AI六面检查机,结合AOI + AI外观检查机,可应用于被动元件、集成电路、LED、陶瓷导热片等电子元件,检测外观不良、有缺陷的产品。
 
       而小型元件中,又以高频晶片陶瓷元件 (LTCC) 所需检验技术最高,其材料性质特殊,外观检测不易,通常使用于产品质量要求极高的无线通讯行业。针对客户需求,台达将AI六面检查机导入某无线通讯行业客户制程,成功提升其高频晶片陶瓷元件的不良品检出率。
 
       传统的LTCC元件多为人员目检,在检查速度、精度及稳定性上,皆无法满足产能及品质水准。后来改以AOI (自动光学检查) 设备做检测,其检测效率大幅提升,但对于产品的变异性仍不易侦测出,除了容易造成误判、漏判外、也需要耗费大量的人力进行参数调整。台达AI六面检查机保留原有AOI优势外,更加入了深度学习的功能,当系统自动学习一定数量的正常产品及缺陷产品影像后,便能自动将正常产品及缺陷产品分类,有效克服AOI难以检出的暗裂及微裂等瑕疵,提升产品检出率与检出速度,节省作业时间、并减少产品误判率。
 
       AI六面检查机设备检测流程:整批料件进入台达AI六面检查机内建的震动盘内,经过整料后,放入玻璃盘进行带动,高速检测转盘将电子料件运送至彩色CCD检测站 (台达AOI检测) 进行六个面的检查 (前照检测、下照检测、右照检测、左照检测、后照检测、上照检测),另外,台达AI六面检查机预留两个检测站作为备用检测使用,客户可自行输入电脑影像处理演算法于CCD检测站,进行自动光学检测,再经过台达AI人工智能检测系统,能有效克服AOI难以检出的暗裂及微裂等瑕疵,最后进行分料作业,杜绝将不良产品流至客户端。
 
       01  提升产品检出速度,节省作业时间
 
       台达检测系统运行稳定,支持高速检测,检测速度可达8,000 pcs / min,大幅提升检测效率;可针对客户需求,量身打造检测演算法,其AI检测系统结合人工智能,持续优化制程,并支持快速换线、强化离线检出调整系统,优化人员调整效率,降低人工目检造成的品质不稳定与人力成本。
 
       02  提升产品检出率,减少产品误判率
 
台达 AOI + AI 检测系统含有白光及复合光源系统及人工智能演算法,可侦测多种尺寸与材质,像是反光物及特殊缺陷 (暗裂及微裂等瑕疵) ,最小检测元件尺寸可达0.4 X 0.2mm,加上检查精度可达1um,有效提升不良品检出率、降低批退率。
 
       03  统计数据分析,MES连线管理
 
       支持统计系统,完整搜集生产信息,可汇出统计系统及图表,并具备与制造执行系统 (MES) 连线功能,生产信息实时上传,提供制程改善依据,解决传统无法完整搜集、分析制程信息的问题。
 
       台达AI六面检查机保留原有AOI优势,并结合AI人工智能,可应用在被动元件、集成电路、LED、陶瓷导热片等反光物及特殊缺陷的电子元件,节省整体检测作业时间、提升产品检出率与检出速度,减少产品误判率,使客户产品的批退率获得显著的改善。
[新闻搜索] [] [告诉好友] [打印本文] [关闭窗口] [返回顶部]
0条 [查看全部]  网友评论

视觉焦点