看好PXI模组化架构持续推动半导体自动化测试(ATE)产业进展，美商国家仪器(National Instruments；NI)公司在日前举办的第八届大中华 PXI 技术与应用论坛(PXI TAC)中引用“摩尔定律”(Moore’s Law)指出，随着以软体定义为基础的PXI模组化平台不断整合多核心＼
FPGA与虚拟化等创新技术，各种ATE测试设备的尺寸、系统成本与功耗也缩减了十倍以上。
摩尔定律是由英特尔(Intel)创办人之一的Gordon Moore在1965年提出──积体电路(IC)上可容纳的电晶体数目，约每隔12个月(1975年摩尔将12个月更改为18个月)便会增加一倍，性能也将提升一倍。这一定律不但揭示资讯技术进步的速度，同时也适用于以软体定义的模组化自动测试系统进展脚步。
NI亚洲区业务副总裁 Victor Mieres指出，“自1997年导入PXI以来，摩尔定律为基于PXI的模组化设备带来了重大的影响。摩尔定律适用于软体定义的模组化自动测试系统，客户的量测仪器尺寸、整体价格和功耗的减少均可达10倍以上。”他并强调：“基于 PXI 开放的工业平台，结合来自摩尔定律的创新技术，所有 PXI 产品将得以成功地用于自动化测试产业。”
Mieres所说的创新技术包括了LabVIEW图形化系统设计(GSD)软体、基于FPGA的可重配置I/O，以及整合的计时与同步设备，结合先进的PXI模组化仪器，将更能协助工程师在摩尔定律的前下打造更自动化的测试系统。特别是在以LabVIEW图形化系统设计为主的测试系统中加入最新的商业可用的技术，如多核心、PCI Expresss与FPGA等先进技术，模组化PXI架构更进一步提升测试效能并扩展应用领域。
NI与太克科技 (Tektronix)合作开发的最高频宽 PXI 示波器 NI PXIe-5185 更进一步验证了摩尔定律在测试系统上的进展。NI资深产品经理Rebecca Suemnicht说：“这款全新的示波器在 基于 PXI 的架构下，能够以更小体积达到更高效能。”
NI 表示，透过摩尔定律的创新技术，未来还将与合作厂商策略整合，共同开发更多基于PXI架构的高成本效益测试系统，以因应未来的应用需求。
