西门子数字化工业软件宣布推出 Tessent™ IJTAG Pro，通过将传统的串行执行的操作转变为并行操作，实现基于 IEEE1687 标准的 IJTAG 输入 / 输出方式的革新，同时提供对定制化硬件读写访问的能力。这款全新软件引入了高带宽的内部 JTAG（IJTAG）与通用数据流功能，依托西门子 Tessent 流扫描网络（SSN）软件的宽总线架构提升数据传输效率，进而帮助客户降低测试成本、缩短测试周期。
当前，随着晶体管密度在多维度上持续拓展，半导体行业正经历前所未有的加速演进。当半导体设计从 2D 架构逐步迈向 2.5D 架构，乃至 3D IC 架构，设计测试面临的挑战也呈现出指数级增长。测试向量数激增、向量执行时间延长、ATE 成本居高不下，加之测试针脚的资源受限，优化现有测试基础设施以实现可扩展测试不仅至关重要，更是保持设计竞争优势的必然选择。
西门子数字化工业软件数字设计创作平台高级副总裁兼总经理 Ankur Gupta 表示：“在当今复杂的 IC 设计领域，优化测试时间是一项重大挑战。Tessent IJTAG Pro 借助西门子 SSN 架构，将传统串行 IJTAG 操作转化为高带宽并行流程，不仅能加速测试进程、降低测试相关成本，还能提供测试访问所需的灵活性，以满足行业不断发展的需求。随着半导体设计从 2D 架构逐步演进至全 3D IC 架构，无论是单个芯粒（chiplet），还是整个 3D IC 封装，都能通过该软件实现测试成本的节约。”
Google 高级工程经理 Srinivas Vooka 表示：“高带宽 IJTAG 创新性地利用 SSN 总线架构，其测试向量传输速度远超传统串行方式，大幅缩短了测试应用时间，尤其在内置自测试（BIST）与混合信号 IP 测试场景中，效果更为显著。”
Tessent IJTAG Pro 与西门子近期发布的 Tessent™ AnalogTest 软件相结合，标志着其在半导体测试能力与带宽方面的重大拓展。如需进一步了解西门子全新 Tessent IJTAG Pro，以及该软件如何助力加速复杂 3D IC 设计与测试进程、降低相关成本，请访问：https://eda.sw.siemens.com/en-US/ic/tessent/test/ijtagpro。
