2、系统要求
2.1 直流工作电压
3. 性能评估
3.1 LTDS
图1给出了用人工中子束进行加速LTDS测试的结果,将额定电压为1700V的现有器件与更高耐压器件进行了比较。通过增加晶圆的电阻率来降低电场强度,从而可以将LTDS选择性地设计在某一程度上。在图1中,带有渐变色的线(2)表示固定厚度晶圆在不同电阻率下的LTDS。这些线仅表示基于实际测试结果的经过统计处理的数据,因此线的形状并不能准确表现因宇宙射线诱发失效的物理理论。尽管较高的电阻率可改善LTDS,但应通过考虑其他基本性能(例如安全的开关性能、功率损耗等)来谨慎地选择电阻率(以及厚度)的最终设计。
图1 不同调整后器件的LTDS测试结果
3.2 安全的开关运行
2000V器件在Vcc=1500V情况下维持安全运行的典型开关行为得到了确认。测试样品选自图1所示的器件,具有一定的晶圆厚度和电阻率,可以满足目标应用的LTDS要求。被测IGBT模块的额定电流为400A。在图2中,两倍额定电流和Vcc=1500V的情况下IGBT安全和干净关断得到了确认。图3显示了RBSOA测试波形。在Vcc=1500V的条件下,IGBT在RBSOA的最外侧(两倍额定电流和2000V额定阻断电压的方形区域内)安全关闭。
图2 Vcc=1500V,Ic=2倍额定电流下IGBT关断波形
图3 Tvj=150℃时的RBSOA测试波形
二极管的阶跃行为如图4所示。在Vcc=1500V、小电流情况下,未发现快速的反向恢复行为。对于最终产品设计,必须谨慎考虑内部并联的器件和杂散电感效应。
将器件的额定电压提高至2000V,功率损耗(导通和开关)必然会增加,这是其本身特性使然。受益于CSTBTTM和RFC结构,在保持足够的LTDS性能的同时,总功耗增加在可控范围内。最关键的因素是特别要避免开关损耗的增加。因为除了目标应用中相对较高的开关频率(1~ 3kHz)外,增加工作电压Vcc本身就是IGBT和二极管开关损耗增大的关键因素。在2000V器件的设计中,这些关键因素得到了充分地考虑。将其与现有的1700V器件以及其它“1500Vdc参与者”进行了比较,以考察2000V器件在功率损耗性能方面的优势。关于比较对象的选择中,一个是采用1200V器件的3电平NPC(I型)拓扑;另一个是采用作为比1700V更高电压等级的3300V器件的两电平拓扑。尽管3.3kV器件是针对要求更高直流母线电压的牵引应用进行了优化的。比较是在相同输出功率/安装面积的条件下进行的。1700V器件的输出功率是设定在690Vac系统下的,其它器件为900Vac系统下的。与输出电压成反比关系,因此用于900Vac系统的输出电流较小。假定安装面积和热阻为相同的封装尺寸和技术。假设1200V、1700V和2000V模块的额定电流为1200A,而3300V模块则由于相对较大的芯片面积被认为是较小额定电流的。在采用1200V器件的3电平-NPC中,假定使用三个额定电流为1200A的双管IGBT模块;因此输出功率条件增加了三倍,以使安装面积/输出功率比保持相同。(见表1)
2000V器件的性能在0.5 kHz至3kHz范围内可与现有1700V设备相媲美(图5(a))。该结果表明,由于输出电压的增加,可以通过降低输出电流来很好地补偿增加的功率损耗(导通和开关)。由此可以得到显著的系统益处(例如,降低电缆中的欧姆损耗,减少并网变压器的绕组等),同时保持对电网的相同功率输出。900Vac的其它解决方案也具有相同的优点,但输出功率较小。1500V的运行对3300V的器件技术显然具有充足的裕量。采用1200V器件的三电平NPC在较低的开关频率下,其性能受到输出级高导通损耗的限制;因此,通常在较高的开关频率下,其性能才会最大化,但是在这种应用条件下,输入级的开关损耗会再次限制性能。逆变器效率是另一个关键方面。2000V器件在目标开关频率附近(约2.4kHz)有着与其它器件相似的良好的效率表现(见图5(b))。
另外,我们还做了固定开关频率为2.5kHz时的输出功率性能比较(见图6)。对于2000V和1700V器件,可实现的安装面积/输出功率比是非常相似的。但是,考虑到减小输出电流带来的好处,2000V器件的性能更好。如表2所示。
4、结 论