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意法半导体推两轴测斜仪芯片,用于工业自动化及结构健康监测

发布日期:2020-08-28 浏览次数:8560 来源:电子发烧友作者:网络
        日前,意法半导体推出两轴数字测斜仪芯片,可用于工业自动化以及结构健康监测。
 
        这款芯片被命名为IIS21CLX,它包含一个可编程的机器学习内核,和16个独立可编程的有限状态自动机,不仅能够节能,同时也可以减少从边缘传感器到云端的数据传输。
 
        意法半导体推两轴测斜仪芯片,用于工业自动化及结构健康监测
 
        此外,IIS21CLX 支持内部补偿,稳定度在0.075mg/℃,噪音为15μg/√Hz。在达到使用寿命之前,设备灵敏度变化预计为-1.5到+1.5%。
 
        IIS21CLX的操作范围为-40℃至+105℃,温度达到25℃之后,灵敏度随温度变化的范围为-0.012至+0.012%/℃。数字输出更新速率可从12.5到883Hz不等。
 
        为了通过减少外部读取的次数来节省电力,IIS21CLX 采用了一个3KB的FIFO存储器来执行存储任务,包括加速度计、外部传感器(通过内部传感集线器硬件,最多同时可以存储四个传感器)、时间戳和温度。
 
        对于机器学习内核,数据表上显示,机器学习内核逻辑可以识别数据模式(例如运动、压力、温度、磁数据)是否与用户定义的类集匹配。典型的应用实例可以是异常振动识别、复杂运动或状态识别,以及活动检测。加速度计的数据模式是学习内核工作的基础,但它也可以通过传感集线器,连接和处理外部传感器的数据(可以是某个陀螺仪或额外的外部测斜仪/加速度计,温度或压力传感器)。
 
        意法半导体表示:“IIS2ICLX兼具稳定性、可重复性、准确性和高分辨率,尤其适合工业应用,如天线指向和监控、平台平整、叉车和施工机器、水准测量仪器、设备安装和监控、太阳能电池板安装和太阳跟踪,以及工业4.0应用程序,比如机器人和自动引导运输工具。”
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