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GE检测控制技术携旗下产品亮相上海QC展

发布日期:2012-10-15 来源:互联网作者:网络
     2012第十七届中国国际质量控制与测试工业设备展览会将于2012年10月31日~2012年11月2日在上海世博展览馆隆重召开。GE检测控制技术将在本届展会上(422展位),展示GE无损检测全领域的优秀产品和领先技术。
    在此次展览会上,GE检测控制技术将展出包括Everest VIT、Hocking、Krautkramer、Nutronik、Phoenix在内的超声、射线、涡流、内窥镜以及胶片的全系列产品线的著名品牌产品。这些产品以其领先的高科技技术为无损检测客户提供更安全、更智能、更高效的无损探伤解决方案。
    在展会期间,GE检测控制技术通过产品介绍、样品展示和观众互动交流等诸多方式,充分为与会者展示GE检测控制技术相关产品应用和先进技术。届时,我们的工程师和产品经理将为您作现场讲解和演示进行现场交流。
    GE检测控制技术参展2012第十七届中国国际质量控制与测试工业设备展览会,期待莅临指导!
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